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水平侧向溅射沉积系统
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本侧向溅射系统是一套专为4英寸及以下基片设计的高性能薄膜沉积设备。系统采用共聚焦靶位布局与基片侧向倾斜旋转设计,集成了直流(DC)与射频(RF)溅射功能,支持多靶材自动切换与工艺气体精确控制。设备配备冷泵+分子泵组合真空系统,本底真空优于5×10⁻⁸ Torr,并配备全自动计算机控制系统,适用于科研与中试生产环境中的金属、氧化物及氮化物薄膜沉积。
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该侧向溅射设备适于4英寸及以下基片,主要真空室内壁采用电子级抛光,确保无化学反应。配置双射频溅射源及清洗电源,支持共聚焦安装,保证了高均匀性和低污染。系统具备预真空室和冷泵,实现低于5×10^-8τ的本

底真空度。此外,它还支持气体混合控制和计算机自动化操作,适用于多种溅射沉积需求。

1.  技术规格:

衬底温度:<100℃;在4英寸衬底上沉积厚度300nm时片内厚度不均匀性(不包括5mm边) <±5%。

2.   星空网页版配置:

2.1 主真空室:

主真空室的内壁材料为电子级抛光,与溅射材料无任何反应;前开或者侧开式真空室;有必要的连接法兰包括泵、溅射源、气体入口、挡板、阀门、预真空室, 10cm直径的观察窗,并带有挡板。

2.2预真空室:

将基片从预真空室传送到主真空室的装置;安装基片的门有O型垫圈密封。

2.3泵与阀门:

主真空室配备20cm(8英寸)的冷泵, CTI带自动再生功能的;预真空室用分子泵,与主真空室通过阀门连接;主真空室的本底真空应该好于5×10-8τ;预真空室的本底真空好于1×10-6τ。主真空室和预真空室共用一个干泵。

主真空室应配有电离压力真空计,用于低压显示, 100mτ电容压力计显示压力,热偶或其它量表用于高压显示;预真空室配有电离压力真空计,热偶或其它量表用于高压显示;所有的量表能输出和显示。

2.4溅射源:

具有2个射频溅射源,1个射频清洗电源,2个直流溅射电源,可自动切换至任意靶位;

具有4个溅射靶位以共聚焦的方式安装,3英寸磁控靶、进气口和挡板构成;挡板用电动控制;溅射源之间有屏蔽保护,以防止靶材之间互相污染。

在4英寸晶圆上溅射厚度的均匀性好于±5%(除了5mm的边缘)。

2.5基片控制:

系统适于直径100mm(4英寸)及以下基片,含碎片和4英寸衬底托盘;系统可以通过简单有效的方法将基片从预真空室传送到主真空室;基片架可以用电机控制旋转,转速在0~40rpm内可精确调节;基片水冷,在连续溅射沉积金属 300nm后,基片的温度不能超过100℃;基片可以在-80°到80°范围内倾斜,控制精度优于0.5°。

2.6工艺气体控制:

系统能够提供3路工艺气体到溅射腔室;每路气体管线有阀门和流量计控制;系统提供电子方式控制气体的混合和系统的工艺压力;在溅射过程中系统的工艺压力可以控制在2mτ到20mτ。

2.7计算机控制系统:

能够控制所有的功能,具有良好的用户操作界面具有程序自动控制工艺的功能。

3.工艺能力与系统优势:


特点说明
低温沉积水冷基片台,连续沉积300 nm金属后温度 < 100℃,适合热敏感衬底
共聚焦溅射4个靶位以共聚焦方式指向基片中心,提高材料利用率与薄膜均匀性
多靶材工艺支持在同一真空周期内依次或共溅射不同材料,无需破真空
基片倾斜与旋转倾斜范围-80°~+80° + 旋转(0~40 rpm),可实现侧向溅射及复杂膜层结构
高真空环境本底真空优于5×10⁻⁸ Torr,有效降低背景杂质掺入
全自动控制计算机控制系统实现一键式工艺运行,提高实验重复性

4.本侧向溅射系统应用于以下研究与生产领域:

半导体器件电极沉积、扩散阻挡层、接触层
磁性薄膜自旋电子器件、磁性多层膜(侧向溅射优势)
光学薄膜抗反射膜、高反射膜、滤光片
超导薄膜高温超导、金属氮化物薄膜
MEMS与传感器金属电极、压电薄膜、敏感层
材料研究合金薄膜、成分梯度薄膜、多层膜结构
表面科学清洁表面制备、薄膜生长机理研究

本侧向溅射系统是一套高真空、多靶位、低温沉积的薄膜制备平台。其4英寸基片 ±5%均匀性、<100℃ 低温工艺、共聚焦3英寸靶位、基片倾斜旋转及全自动控制等主要特性,使其特别适合于对薄膜质量、均匀性和衬底温

度有严格要求的科研与中试生产应用。如需进一步了解系统配置、定制选项或报价,欢迎联系我们。


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本侧向溅射系统是一套专为4英寸及以下基片设计的高性能薄膜沉积设备。系统采用共聚焦靶位布局与基片侧向倾斜旋转设计,集成了直流(DC)与射频(RF)溅射功能,支持多靶材自动切换与工艺气体精确控制。设备配备冷泵+分子泵组合真空系统,本底真空优于5×10⁻⁸ Torr,并配备全自动计算机控制系统,适用于科研与中试生产环境中的金属、氧化物及氮化物薄膜沉积。
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该侧向溅射设备适于4英寸及以下基片,主要真空室内壁采用电子级抛光,确保无化学反应。配置双射频溅射源及清洗电源,支持共聚焦安装,保证了高均匀性和低污染。系统具备预真空室和冷泵,实现低于5×10^-8τ的本

底真空度。此外,它还支持气体混合控制和计算机自动化操作,适用于多种溅射沉积需求。

1.  技术规格:

衬底温度:<100℃;在4英寸衬底上沉积厚度300nm时片内厚度不均匀性(不包括5mm边) <±5%。

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2.1 主真空室:

主真空室的内壁材料为电子级抛光,与溅射材料无任何反应;前开或者侧开式真空室;有必要的连接法兰包括泵、溅射源、气体入口、挡板、阀门、预真空室, 10cm直径的观察窗,并带有挡板。

2.2预真空室:

将基片从预真空室传送到主真空室的装置;安装基片的门有O型垫圈密封。

2.3泵与阀门:

主真空室配备20cm(8英寸)的冷泵, CTI带自动再生功能的;预真空室用分子泵,与主真空室通过阀门连接;主真空室的本底真空应该好于5×10-8τ;预真空室的本底真空好于1×10-6τ。主真空室和预真空室共用一个干泵。

主真空室应配有电离压力真空计,用于低压显示, 100mτ电容压力计显示压力,热偶或其它量表用于高压显示;预真空室配有电离压力真空计,热偶或其它量表用于高压显示;所有的量表能输出和显示。

2.4溅射源:

具有2个射频溅射源,1个射频清洗电源,2个直流溅射电源,可自动切换至任意靶位;

具有4个溅射靶位以共聚焦的方式安装,3英寸磁控靶、进气口和挡板构成;挡板用电动控制;溅射源之间有屏蔽保护,以防止靶材之间互相污染。

在4英寸晶圆上溅射厚度的均匀性好于±5%(除了5mm的边缘)。

2.5基片控制:

系统适于直径100mm(4英寸)及以下基片,含碎片和4英寸衬底托盘;系统可以通过简单有效的方法将基片从预真空室传送到主真空室;基片架可以用电机控制旋转,转速在0~40rpm内可精确调节;基片水冷,在连续溅射沉积金属 300nm后,基片的温度不能超过100℃;基片可以在-80°到80°范围内倾斜,控制精度优于0.5°。

2.6工艺气体控制:

系统能够提供3路工艺气体到溅射腔室;每路气体管线有阀门和流量计控制;系统提供电子方式控制气体的混合和系统的工艺压力;在溅射过程中系统的工艺压力可以控制在2mτ到20mτ。

2.7计算机控制系统:

能够控制所有的功能,具有良好的用户操作界面具有程序自动控制工艺的功能。

3.工艺能力与系统优势:


特点说明
低温沉积水冷基片台,连续沉积300 nm金属后温度 < 100℃,适合热敏感衬底
共聚焦溅射4个靶位以共聚焦方式指向基片中心,提高材料利用率与薄膜均匀性
多靶材工艺支持在同一真空周期内依次或共溅射不同材料,无需破真空
基片倾斜与旋转倾斜范围-80°~+80° + 旋转(0~40 rpm),可实现侧向溅射及复杂膜层结构
高真空环境本底真空优于5×10⁻⁸ Torr,有效降低背景杂质掺入
全自动控制计算机控制系统实现一键式工艺运行,提高实验重复性

4.本侧向溅射系统应用于以下研究与生产领域:

半导体器件电极沉积、扩散阻挡层、接触层
磁性薄膜自旋电子器件、磁性多层膜(侧向溅射优势)
光学薄膜抗反射膜、高反射膜、滤光片
超导薄膜高温超导、金属氮化物薄膜
MEMS与传感器金属电极、压电薄膜、敏感层
材料研究合金薄膜、成分梯度薄膜、多层膜结构
表面科学清洁表面制备、薄膜生长机理研究

本侧向溅射系统是一套高真空、多靶位、低温沉积的薄膜制备平台。其4英寸基片 ±5%均匀性、<100℃ 低温工艺、共聚焦3英寸靶位、基片倾斜旋转及全自动控制等主要特性,使其特别适合于对薄膜质量、均匀性和衬底温

度有严格要求的科研与中试生产应用。如需进一步了解系统配置、定制选项或报价,欢迎联系我们。


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